Aktuelles

Wir erweitern unsere Terahertz-Expertise auf den mittleren Infrarotbereich. Hierbei untersuchen wir gemeinsam mit dem Fraunhofer-Institut für Optik und Feinmechanik IOF nichtlineare Kristalle für die optische Frequenzkonversion ultrakurzer Laserpulse vom nahen in den mittleren Infrarotbereich. Das Fraunhofer-Exzellenzcluster Advanced Photon Sources CAPS fördert mit insgesamt 250.000 Euro.

Batteriesimulation gehört schon seit Jahren zu den Forschungsschwerpunkten unseres Instituts. Seit kurzem erweitert die Qualitätskontrolle diesen Forschungszweig. Der Fokus liegt dabei auf Elektroden und ihren Leiteigenschaften. Bei der Stuttgarter Leitmesse »Battery Show Europe« präsentieren Expert:innen diese Neuheiten in Halle 9 an Stand B85.

Die PANNDT Konferenz bietet eine Plattform für Expert:innen und Forschende zum Austausch über ZfP-Techniken (zerstörungsfreie Prüfungs-Techniken). Unser Experte Dr. Joachim Jonuscheit, stellvertretender Abteilungsleiter der »Materialcharakterisierung und -prüfung«, stellt am Gemeinschaftsstand mit dem Fraunhofer FHR ein Exponat mit dem Titel »Inline-Dickenmessung von Beschichtungen auf Batteriefolien« vor.

Die Konferenz thematisiert die Fortschritte in der Mid-Infrared Optoelektronik und bietet Forschenden eine Plattform für den Austausch über Anwendungen im mittleren Infrarotspektrum. Prof. Dr. Ioachim Pupeza aus der Abteilung »Materialcharakteriserung und -prüfung« hält einen Plenarvortrag mit dem Titel »High-Sensitivity and High-Dynamic-Range Field-Resolved Infrared Spectroscopy for Biology and Medicine«.

Die Control dreht sich als Konferenz und Messe umd das Thema industrielle Qualitätssicherung. Unsere Expert:innen aus den Abteilungen »Materialcharakterisierung und -prüfung«  sowie »Bildverarbeitung» sind vor Ort und präsentieren die Themenschwerpunkte »Inline-Oberflächeninspektionssysteme und virtuelle Inspektionsplanung« sowie »Zerstörungsfreie und berührungslose Schichtdickenmessung«.

Die Sitzung der Deutschen Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung bietet eine Plattform zum Austausch von Fachwissen und aktuellen Entwicklungen des Themas ZfP. Unser Experte Dr. Joachim Jonuscheit, stellvertretender Leiter der Abteilung »Materialcharakterisierung und -prüfung«, hält einen Vortrag zum Thema »Möglichkeiten des industriellen Einsatzes der Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik«.