Messe

Die PANNDT Konferenz bietet eine Plattform für Expert:innen und Forschende zum Austausch über ZfP-Techniken (zerstörungsfreie Prüfungs-Techniken). Präsentiert werden die neuesten Entwicklungen, innovativen Werkzeuge und aktuellen Trends in den Schwerpunkten Inspektion, QA/QC und Fertigung. Zusätzlich umfasst die Veranstaltung einen Abend im malerischen Niagara Parks Kraftwerk sowie ein festliches Gala-Dinner. Diese Konferenz stellt eine wertvolle Gelegenheit dar, sich über die Fortschritte in der ZfP-Technologie zu informieren und zu vernetzen.

Unser Experte Dr. Joachim Jonuscheit, stellvertretender Abteilungsleiter der »Materialcharakterisierung und -prüfung«, stellt am Gemeinschaftsstand mit dem Fraunhofer-Institut für Hochfrequenzphysik und Radartechnik FHR ein Exponat mit dem Titel »Inline-Dickenmessung von Beschichtungen auf Batteriefolien« vor.