Tagung

Studierenden und jungen Forschende ist der internationale Austausch mit Expert:innen über Grundlagenwissenschaft, industrieller Anwendung und Technologie im Bereich der Mikro- und Terahertz-Wellen durch ein vielseitiges Programm mit Workshops und Vorträgen möglich.

Unser Experte Dr. Joachim Jonuscheit aus der Abteilung »Materialcharakterisierung und -prüfung« ist mit dem Vortrag »Thickness Measurement in an Industrial Environment« (Dickenmessung in einer industriellen Umgebung) vor Ort.