Profil Andreas Keil

Schwerpunkte/Kompetenzen

• Entwicklung von Millimeterwellen- und Terahertzprüfgeräten
  
• Zerstörungsfreie Materialprüfung
  
• Entwicklung und Implementierung von Echtzeit-SAR und MIMO Algorithmen

 

Publikationen

Highlightpublikationen

• May, K.H., Keil, A., von Freymann, G., Friederich, F.
  The Conjugate Gradient Least Square Algorithm in Terahertz Tomography.
  IEEE Access, 9 (142168-1421789) (2021).
• Sharma, R.; Hussung, R.; Keil, A.; Friederich, F.; Fromenteze, T.; Khalily, M.; Deka, B., Fusco, V.; Yurduseven, O.:
  Coded-Aperture Computational Millimeter-Wave Image Classifier Using Convolutional Neural Network
  IEEE Access Open Access Volume 9, 119830 – 119844 (2021). 
• Ellrich, F.; Bauer, M.; Schreiner, N.; Keil, A.; Pfeiffer, T.; Klier, J.; Weber, S.; Jonuscheit, J.; Friederich, F.; Molter, D.:
  Terahertz Quality Inspection for Automotive and Aviation Industries.
  Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, 48 (9) 537, (2019).
• Baccouche, B.; Agostini, P.; Mohammadzadeh, S.; Kahl, M.; Weisenstein, C.; Jonuscheit, J.; Keil, A.; Löffler, T.; Sauer-Greff, W.; Urbansky, R.:
  3D Terahertz Imaging with Sparse Multistatic Line Arrays.
  IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron., Vol. 23, No. 4, 1-11, (2017).