Programm
Das Programm setzt sich auf drei Konferenzen mit unterschiedlichen Themen und zwei Fachmessen zusammen. Wir sind mit Experten unserer Abteilungen »Materialcharakterisierung und -prüfung« und »Optimierung – Technische Prozesse« vor Ort. Wir präsentieren mehrere Vorträge, unsere Expertinnen sowie Experten sind Sitzungsleiter und zeigen wissenschaftliche Poster zu folgenden Themen:
Montag, 03. Februar
Session 3 zum Thema: »Terahertz Frontiers: Towards quantum sensing in the terahertz frequency range«
15:40 bis 17:50 Uhr
Expertinnen und Experten vom Fraunhofer ITWM: Daniel Molter, Mirco Kutas, Björn Haase, Felix Riexinger, Patricia Bickert, Michael Bortz, Georg von Freymann
Session 7 zum Thema: »DLW: Sensing and Waveguides: Direct laser writing of waveguides using the exposure dependent polymerization of IP-Dip«
16:00 bis 17:20 Uhr
Expertinnen und Experten: Christina Jörg und Julian Schulz (TU Kaiserslautern), Georg von Freymann (Fraunhofer ITWM und TU Kaiserslautern)
Dienstag, 04. Februar
Session 1 zum Thema: »DLW: Microoptics and Metals: Fabrication and characterization of 3D silver micro-structures«
08:20 bis 10:10 Uhr
Experten: Georg von Freymann und Erik Hagen Waller (TU Kaiserslautern)
Session 5 zum Thema: »Terahertz Layer Thickness Evaluation: FMCW thickness evaluation with a mobile hand-held terahertz system«
9:00 Uhr bis 10:20 Uhr
Expertinnen und Experten vom Fraunhofer ITWM: Fabian Friederich, Nina S. Schreiner, Andreas Keil
Session 6 zum Thema: »Fast-Scanning Terahertz TDS Systems SLAPCOPS: A single-laser engine for terahertz time-domain spectroscopy systems«
10:50 Uhr bis 12:30 Uhr
Experten vom Fraunhofer ITWM: Michael Kolano, Daniel Molter, Oliver Boidol, Georg von Freymann
Session 7 zum Thema: »Terahertz Cross-Correlation Systems: Terahertz cross-correlation spectroscopy using incoherent light sources«
14:00 Uhr bis 15:20 Uhr
Experten vom Fraunhofer ITWM: Daniel Molter, Michael Kolano, Georg von Freymann
Session 12 zum Thema: »3D Lithography with DMD and SLM Devices: Two-Photon laser lithography for metrology and vice versa«
15:40 Uhr bis 17:40 Uhr
Experten: Julian Hering und Matthias Eifler (TU Kaiserslautern und Opti-Cal GmbH), Xiukun Hu und Gaoliang Dai (Physikalisch-Technische Bundesanstalt), Jörg Seewig (TU Kaiserslautern und Opti-Cal GmbH) und Georg von Freymann (TU Kaiserslautern, Opti-Cal GmbH und Fraunhofer ITWM)